眼鏡膜厚測試儀可以在惡劣環境下工作嗎？
光譜膜厚儀的磁感應測量原理
光譜膜厚儀的磁感應測量原理主要基于磁通和磁阻的變化來測定覆層厚度。當光譜膜厚儀的測頭接近被測物體時，測頭會發出磁場，這個磁場會經過非鐵磁覆層流入鐵磁基體。在這個過程中，磁通的大小會受到覆層厚度的影響。.. 全文
后視鏡吸光率測試儀
后視鏡吸光率測試儀是一種專門用于測量汽車后視鏡等物體表面吸收光線能力的儀器。以下是關于該測試儀的詳細介紹：功能與特點:1.精確測量：采用先進的光學技術和精密算法，能夠準確快速地測定物體在特定波長范圍內.. 全文
聚合物膜厚儀的原理是什么？
聚合物膜厚儀是一種專門用于測量聚合物薄膜厚度的精密儀器。其工作原理主要基于光學干涉原理。具體來說，當一束光照射到聚合物薄膜表面時，部分光被薄膜上表面反射，而另一部分光則穿透薄膜后在下表面反射，這兩束反.. 全文
