微流控涂層膜厚儀的磁感應測量原理

微流控涂層膜厚儀的磁感應測量原理是基于磁通量的變化和磁阻的測量來確定涂層厚度的。在測量過程中，儀器利用特定的探頭，將磁通量從探頭經過非鐵磁涂層，流入到鐵磁基體。這一過程中，涂層的存在會影響磁通量的流動，涂層的厚度越厚，磁通量受到的影響就越大，磁阻也會相應增大。具體來說，當探頭靠近被測樣品時，儀器會自動輸出測試電流或測試信號，產生一定的磁場。這個磁場會在涂層和基體之間產生磁通量的流動。由于涂層是非鐵磁性的，它會阻礙磁通量的流動，導致磁通量減少，磁阻增大。涂層越厚，這種阻礙作用就越明顯，磁通量就越小，磁阻就越大。微流控涂層膜厚儀通過精確測量這種磁通量的變化和磁阻的大小，就可以反推出涂層的厚度。這種測量方法具有非接觸、高精度、快速響應等優點，廣泛應用于各種涂層厚度的測量，如金屬涂層、非金屬涂層等。總之，微流控涂層膜厚儀的磁感應測量原理是通過測量磁通量的變化和磁阻的大小來確定涂層厚度的，這種原理為涂層厚度的精確測量提供了一種有效的方法。