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北京易達測量技術有限公司
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x射線發生裝置使用范圍：
金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業廢棄物；有機材料：品、工程塑料、各種樹脂等。利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感、氣體電離，低能x射線發生裝置，測定物質的晶體結構，織構及應力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。
什么是x射線發生裝置
X射線衍射儀(X-ray diffractometer，低能x射線發生裝置價格，XRD)是利用X射線衍射原理研究物質內部結構的一種大型分析儀器。令一束X射線和樣品交互，用生成的衍射圖譜來分析物質結構。它是在X射線晶體學領域中在原子尺度范圍內研究材料結構的主要儀器，也可用于研究非晶體。由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
x射線發生裝置角度校準的光學新方法
目前x射線發生裝置的角度檢定和校準測試主要依據JJG 629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規程》和JB/T 9400—2010《X射線衍射儀技術條件》等技術文件，具體方法是采用光學經緯儀或多面棱體等進行測試，該測量方法實際應用中存在一定難度，其次測量間隔較大，低能x射線發生裝置哪家好，不能很好反映真實的角度誤差規律.為此，提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨立運動的特點，組合采用光電自準直儀和小角度激光干涉儀等儀器，設計了一種新的XRD的角度校準方法，它能夠自動快速地連續測量角度，取k=2時，擴展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠得到θ和2θ軸的誤差數據，可用于修正XRD測角誤差，提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統等其他需要角度校準的情況.
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第6年
