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東莞市大凡光學科技有限公司
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污點線規是一種用于檢測產品中的污點、劃痕、線條等缺陷的工具。以下是關于污點線規的詳細信息和特點：定義與用途：污點線規（也稱為點規污點規、點線規、菲林尺等）主要用于產品外觀檢查，以判定污點、表面劃痕等缺陷是否符合所要求的精度范圍。它通過將被測產品的表面與污點線規上的標準點、線、面進行對照，判斷其大小、長短是否在允許的范圍內，從而確定產品是否合格。規格與參數：測量黑點直徑范圍：通常為0.10-3.00mm。測量面積范圍：一般為0.03-0.5平方毫米（m㎡）。線幅范圍：0.08-1.50mm。精度：根據具體規格而定，但一般精度較高，小線寬可達0.01mm，點大小可達0.1mm。使用方法：將污點線規（A4或四分之一A4大?。┓胖糜诒粶y產品的表面。對照污點線規上的標準點、線、面，判斷產品上的污點、劃痕等缺陷是否在規定范圍內。若缺陷大小在標準范圍內，則產品合格；否則不合格。
點線規測量卡是一種用于測量、對比和判定產品表面點、線、面等缺陷的工具。以下是關于點線規測量卡的詳細信息和特點，按照清晰的結構進行分點表示和歸納：定義與用途點線規測量卡（也稱為點規線規卡、點規污點規面積對比卡等）主要用于電子、光電、通信等行業中產品的外觀檢查。它通過對比產品表面的點、劃痕等缺陷與測量卡上的標準點、線、面，來判斷這些缺陷是否超過規定的尺寸范圍。規格與參數點的大小范圍：從0.1mm到3.00mm不等，用于測量和對比不同大小的點缺陷。線的長度范圍：包括0.02mm， 0.05mm， 0.08mm， 0.1mm， 0.2mm，新北點線規測量卡， 0.3mm， 0.5mm，點線規測量卡定做， 0.7mm， 1.0mm， 3.0mm等多種規格，用于測量和對比不同長度的線條缺陷。面的大小范圍：從0.08mm2到1.5mm2不等，點線規測量卡工廠，用于測量和對比不同面積的面缺陷。尺寸：常見的有點線規A4尺寸（與標準A4紙大小相同）以及其它特定尺寸，如四分之一A4大小等，方便攜帶和使用。
溫馨提示：以上是關于點線規測量卡定做-大凡光學-新北點線規測量卡的詳細介紹，產品由東莞市大凡光學科技有限公司為您提供，如果您對東莞市大凡光學科技有限公司產品信息感興趣可以聯系供應商或者讓供應商主動聯系您 ，您也可以查看更多與光學儀器相關的產品！
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第2年
