精細研磨機-山東精細研磨-蘇州特斯特電子
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蘇州特斯特電子科技有限公司
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(宋作鵬 先生)
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超景深顯微鏡是一種雙目觀察的連續(xù)變倍實體顯微鏡,專為要求工作距離長,觀察視域大的用戶而設(shè)計,成像清晰,精細研磨設(shè)備價格,外形美觀。 產(chǎn)品用途:超景深顯微鏡能將微小的物體加以放大,形成清晰正的立體像。可供衛(wèi)生、農(nóng)林、、學(xué)校、科研部門作觀察分析用,也適用于電子工業(yè)和儀器儀表行業(yè)作精細零部件的檢驗、裝配、修理。 連續(xù)變倍單筒視頻顯微鏡提供的光學(xué)系統(tǒng)和耐用可靠的操作機構(gòu)。

對于故障分析而言,精細研磨機,微光顯微鏡(Emission Microscope,山東精細研磨, EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中,EHP(Electron Hole Pairs) Recombination會放出光子(Photon)。舉例說明:在P-N 結(jié)加偏壓,此時N阱的電子很容易擴散到P阱,而P的空穴也容易擴散至N然後與P端的空穴(或N端的電子)做 EHP Recombination。

EMMI偵測的到亮點、熱點(Hot Spot)情況;原來就會有的亮點、熱點(Hot Spot)飽和區(qū)操作中的BJT或MOS(Saturated Or Active Bipolar Transistors /Saturated MOS)動態(tài)式CMOS (Dynamic CMOS)二極管順向與逆向偏壓崩潰 (Forward Biased Diodes /Reverse Biased Diodes Breakdown)偵測不到亮點情況不會出現(xiàn)亮點的故障奧姆或金屬的短路(Ohmic Short / Metal Short)亮點被遮蔽之情況埋入式接面的漏電區(qū)(Buried Juncti)金屬線底下的漏電區(qū)(Leakage Sites Under Metal)

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