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蘇州特斯特電子科技有限公司
主營：失效分析設備,檢測服務,檢測儀器
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EMMI微光顯微鏡
微光顯微鏡（Emission Microscope， EMMI）是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言，化學開封機設備，微光顯微鏡（Emission Microscope， EMMI）是一種相當有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內部所放出光子。在IC元件中，EHP（Electron Hole Pairs）Recombination會放出光子（Photon）。如在P-N結加偏壓，此時N阱的電子很容易擴散到P阱，而P的空穴也容易擴散至N，然后與P端的空穴（或N端的電子）做EHP Recombination。在故障點定位、尋找近紅外波段發光點等方面，微光顯微鏡可分析P-N接面漏電；P-N接面崩潰；飽和區晶體管的熱電子；氧化層漏電生的光子激發；Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.
芯片失效分析步驟:
1、非破壞性分析：主要是超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）--看有沒delamination，xray--看內部結構，等等；
2、電測：主要工具，萬用表，示波器， tek370a
3、破壞性分析：機械decap，天津化學開封機，化學 decap芯片開封機
4、半導體器件芯片失效分析 芯片內部分析，孔洞氣泡失效分析。
蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設備的代理銷售和技術服務，產品涵蓋電子元器件，化學開封機多少錢，電路板，線纜線束的測試與檢測。
其實利用在檢測芯片的過程當中，其實這種方法是非常有效的，關于emmi分析國內目前的技術通常已經達到了要求，在對芯片進行檢測過程當中，化學開封機廠家，利用微光顯微鏡它的效果通常是非常明顯的。比如說如果說亮點被遮掩的過程當中采用的是利用境外紅波的發光，通過拋光的處理來進行探測，這樣才能夠有效的去發現金屬歸沉寂的有效缺陷。
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第5年
