葉片光譜檢測儀廠家該怎么挑選？求解答

半導體膜厚儀是一種用于精確測量半導體材料表面薄膜厚度的儀器。其工作原理主要基于光學反射、透射以及薄膜干涉現象。當光線照射到半導體薄膜表面時，部分光線會被薄膜反射，部分則會透射過去。反射光和透射光的光程.. 全文

一個好的植物NDVI測量儀廠家，需要有責任心，對產品的品質要求嚴格，一絲不茍，產品的品質是對客戶很大的尊重與負責。 全文

微流控涂層膜厚儀的磁感應測量原理是基于磁通量的變化和磁阻的測量來確定涂層厚度的。在測量過程中，儀器利用特定的探頭，將磁通量從探頭經過非鐵磁涂層，流入到鐵磁基體。這一過程中，涂層的存在會影響磁通量的流動.. 全文

用透過率測量系統測量的時候，先裝上樣品，按測試鈕，指示燈轉為紅光，不久就在指示屏上顯示出透光率數值及霧度數值，前者顯示單位為0.1%，后者為0.01%。此時，指示燈轉為綠光，需要進行復測時，可不拿下樣.. 全文